同类推荐
-
-
IGBT器件——物理、设计与应用(原书第2版)
-
¥198.00
-
-
半导体器件物理实验教程
-
¥69.00
-
-
IGBT器件:物理、设计与应用
-
¥198.00
-
-
功率半导体器件封装技术
-
¥99.00
-
-
泛谈半导体
-
¥128.00
-
-
泛谈半导体
-
¥128.00
-
-
泛谈半导体
-
¥128.00
-
-
新一代功率半导体研发与应用精讲
-
¥109.00
-
-
花岗伟晶岩钾长石尾矿制备多晶硅及HIT太阳电池模拟研究
-
¥66.00
-
-
氮化镓与碳化硅功率器件:基础原理及应用全解:from …
-
¥99.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
SMT单板互连可靠性与典型失效场景:全彩
|
| ISBN: | 9787121486371 |
定价: | ¥168.00 |
| 作者: | 贾忠中,张华,赵宗启著 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2024年08月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 14,274页 |
中图法: | TN305 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
115
|
库区13/库区3/泰安展厅库/样本13/样本3
|
2025-10-30
|
|
其它供货商库存合计
|
734
|
|
2025-10-30
|
图书简介 | | 本书是作者从事电子制造40年来有关单板互连可靠性方面的经验总结,讨论了单板常见的失效模式、典型失效场景以及如何设计与制造高可靠性产品的广泛问题,并通过大量篇幅重点讨论了焊点的断裂失效现象及裂纹特征。全书内容共4个部分,第一部分为焊点失效机理与裂纹特征,详细介绍焊点的失效模式、失效机理、裂纹特征及失效分析方法;第二部分为高可靠性产品的焊点设计,包括封装选型、PCBA的互连结构设计、组装热设计及焊点的寿命评估技术;第三部分为环境腐蚀与三防处理,重点介绍腐蚀失效与锡须问题,以及与之相关的清洗和三防工艺;第四部分为高可靠性产品的制造,重点介绍组装工艺控制要点与典型缺陷焊点。 |
|