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图书信息
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宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践
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| ISBN： | 9787576705416 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 付晓君[等]编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 250页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN323 |
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187
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2026-08-15
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图书简介 | | 本书系统介绍宇航MOSFET器件的单粒子效应机理和加固技术。全书共6章，主要内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航MOSFET器件的空间辐射效应及损伤模型、宇航MOSFET器件抗单粒子辐射加固技术、宇航MOSFET器件测试技术与辐照试验，并以一款宇航VDMOS器件为实例，详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节，最后介绍宇航MOSFET器件的应用及发展趋势。 |
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