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图书信息
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有机半导体及器件中的缺陷
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| ISBN： | 9787111819011 |
定价： | ￥79.80 |
| 作者： | (法)阮天法(Thien-Phap Nguyen)著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2026年09月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 137页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN304.5 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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30
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库区7
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2026-10-23
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其它供货商库存合计
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509
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2026-10-22
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图书简介 | | 全书共7章，以“基础-理论-机制-技术-应用”为逻辑脉络：第1章概述有机半导体、其掺杂特性及OLED、OPV、OFET等核心器件架构；第2章对比晶体、非晶体与有机半导体的有序/无序差异，解析态密度与局域态，夯实缺陷理论基础；第3章阐述缺陷对载流子输运及材料光学特性的影响；第4章详解ESR、荧光光谱、TSC、DLTS等缺陷研究技术的原理与应用；第5章梳理有机材料与器件中结构、杂质、界面等缺陷来源；第6章分析缺陷对器件效率、稳定性及老化的作用，最后展望研究方向。 |
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