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图书信息
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集成电路封装与测试
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| ISBN: | 9787040613827 |
定价: | ¥49.80 |
| 作者: | 卢静,马岗强,徐雪刚主编 |
出版社: | 高等教育出版社 |
| 出版时间: | 2024年07月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 291页 |
中图法: | TN405.94;TN407 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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13
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库区4/样本4
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2026-07-03
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其它供货商库存合计
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50
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2026-06-11
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图书简介 | | 本书主要包括导论、模拟芯片LM1117塑料封装、模拟芯片LM1117测试、数字芯片74LS138金属封装、数字芯片74LS138测试、存储器芯片封装与测试等内容,融入集成电路封装与测试岗位、“集成电路开发及应用”职业院校技能大赛、“集成电路开发与测试”“集成电路封装与测试”1+X职业技能等级证书要求,充分体现“岗课赛证”融通。 |
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