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图书信息
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模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践
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| ISBN： | 9787576705454 |
定价： | ￥108.00 |
| 作者： | 黄晓宗等编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 289页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN431.1;TN45 |
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2026-04-10
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图书简介 | | 本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理、加固技术和实践、辐射测试技术等研究内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应、半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性；第3-5章介绍了从工艺、版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术；第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究；第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。 |
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