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图书信息
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
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| ISBN： | 9787121351150 |
定价： | ￥79.00 |
| 作者： | (日)Eishi H. Ibe著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2019年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 14,210页 |
中图法： | TN45;TN103 |
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2025-12-17
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图书简介 | | 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。 |
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