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图书信息
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微电子器件可靠性
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| ISBN： | 9787040637649 |
定价： | ￥45.00 |
| 作者： | 贾新章[等]编著 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2025年04月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 277页 |
中图法： | TN406 |
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50
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2026-06-11
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图书简介 | | 本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。 |
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