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图书信息
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二维半导体的滑移铁电物理及器件特性研究
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| ISBN： | 9787577012575 |
定价： | ￥60.00 |
| 作者： | 卞仁吉，刘富才著 |
出版社： | 电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2025年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 141页 |
中图法： | TN384 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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34
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库区3/泰安展厅库/样本3
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2026-09-10
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其它供货商库存合计
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179
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2026-09-10
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图书简介 | | 本书共六章。第一章为绪论，主要介绍铁电理论和临界尺寸效应，以及二维层状铁电体；第二章为实验方法，从实验试剂、材料表征、器件制备、电学输运测量四个方面进行介绍；第三章为二维半导体的滑移铁电物性，介绍了如何通过电学输运特性表征滑移铁电体的铁电性及铁电的居里相变温度研究；第四章为层间滑移诱导的多极化态及抗疲劳特性，详述了滑移铁电体的层数依赖的极化态及天然的抗疲劳特性；第五章为高性能滑移铁电半导体晶体管，通过合理的器件结构设计实现了高性能的滑移铁电半导体晶体管的制备；第六章为总结，总结了本书中的研究及创新点，并对该研究进行展望。 |
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