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图书信息
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宽禁带功率半导体器件特性测试
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| ISBN： | 9787111805854 |
定价： | ￥129.00 |
| 作者： | (美)王飞(Fred Wang)，(美)张哲字(Zheyu Zhang)，(美)爱德华·A.琼斯(Edward A.Jones)著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2026年04月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 295页 |
中图法： | TN303 |
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2026-06-04
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图书简介 | | 该书涵盖了以下内容：脉冲静态特性测试、结电容特性测试、动态特性测试的基本原理、动态特性测试栅极驱动单元设计、布局设计与寄生参数优化、双脉冲测试保护设计、动态特性的测量与数据处理、串扰分析与抑制、三相系统的影响，以及拓扑设计注意事项。 |
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