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图书信息
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半导体器件建模与测试实验教程:基于华大九天器件建模与验证平台XModel
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| ISBN： | 9787121493713 |
定价： | ￥58.00 |
| 作者： | 杜江锋，石艳玲，朱能勇编著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2025年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 213页 |
中图法： | TN303 |
相关供货商
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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60
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库区13/库区7/泰安展厅库/样本13/样本3
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2026-07-03
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其它供货商库存合计
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916
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2026-07-02
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图书简介 | | 本书基于国产EDA软件EmpyreanXmodel器件模型提取工具，系统、全面地介绍硅基MOSFET和GaNHEMT的器件建模、测试分析和参数提取的设计和实验全流程。本书在简要介绍半导体器件的基本理论、测试结构和测试方案的基础上，详细阐述MOSFETBSIM模型和参数提取实验、Xmodel集成的数据图形化显示系统、MOSFET器件直流模型和射频模型的提取实验、基于ASM-HEMT模型的GaN功率器件和射频器件的模型参数提取实验等，以及半导体器件中常见的各种二阶效应(如短沟道效应、版图邻近效应、工艺角模型和温度特性等)非线性模型参数的提取和验证方法。 |
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