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图书信息
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数字集成电路测试及可测性设计
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| ISBN： | 9787122465535 |
定价： | ￥79.00 |
| 作者： | 张晓旭，张永锋，山丹编著 |
出版社： | 化学工业出版社 |
| 出版时间： | 2024年11月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 190页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN431.207 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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2
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泰安展厅库
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2026-08-20
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其它供货商库存合计
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119
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2026-08-19
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图书简介 | | 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析，本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行理论讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。 |
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