同类推荐
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
CMOS数字集成电路全流程设计
-
¥129.00
-
-
CMOS数字集成电路全流程设计
-
¥129.00
-
-
CMOS数字集成电路全流程设计
-
¥129.00
-
-
敏捷硬件开发语言Chisel与数字系统设计
-
¥69.00
-
-
系统芯片物理设计
-
¥198.00
-
-
集成电路封装:材料方法与工艺
-
¥49.00
-
-
SoC设计与应用:架构、低功耗与FPGA实现
-
¥89.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
微电子器件可靠性技术
|
| ISBN： | 9787563981564 |
定价： | ￥33.00 |
| 作者： | 张小玲，郭春生，谢雪松主编 |
出版社： | 北京工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 164页 |
中图法： | TN406 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
196
|
|
2026-05-25
|
图书简介 | | 本书共9章，内容包括：绪论、半导体材料及器件技术简介、可靠性的基本概念及数学表征、可靠性试验及数据处理方法、界面失效机理、体内失效机理、电极系统及封装的失效机理、常见的使用可靠性问题、微电子器件的失效分析。 |
|