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图书信息
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微电子器件可靠性技术
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| ISBN： | 9787563981564 |
定价： | ￥33.00 |
| 作者： | 张小玲，郭春生，谢雪松主编 |
出版社： | 北京工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2021年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 164页 |
中图法： | TN406 |
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195
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2026-08-10
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图书简介 | | 本书共9章，内容包括：绪论、半导体材料及器件技术简介、可靠性的基本概念及数学表征、可靠性试验及数据处理方法、界面失效机理、体内失效机理、电极系统及封装的失效机理、常见的使用可靠性问题、微电子器件的失效分析。 |
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