同类推荐
-
-
半导体工艺和器件网页仿真软件Cogenda WebTC…
-
¥69.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
大功率LED封装技术及应用
-
¥168.00
-
-
图解高可靠性SiC功率半导体器件与封装技术
-
¥69.00
-
-
半导体器件物理实验教程
-
¥69.00
-
-
IGBT器件:物理、设计与应用
-
¥198.00
-
-
现代半导体光电子器件
-
¥32.90
-
-
卟啉/酞菁光电半导体材料
-
¥299.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
半导体结构
|
| ISBN: | 9787030789778 |
定价: | ¥59.00 |
| 作者: | 张彤,李国兴,徐宝琨编著 |
出版社: | 科学出版社 |
| 出版时间: | 2024年06月 |
开本: | 26cm |
| 页数: | 212页 |
装祯: | 平装 |
中图法: | TN303 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
1
|
库区4/样本7
|
2025-12-15
|
|
其它供货商库存合计
|
202
|
|
2025-12-12
|
图书简介 | | 本书主要介绍半导体的晶体结构以及缺陷理论。全书的主要内容包括晶体的性质,晶体的构造理论,晶体的对称性理论,晶体的晶向和晶面,半导体材料及电子材料晶体结构的特点及性质,半导体中的点缺陷、线缺陷和面缺陷,以及半导体结构的表征技术。 |
|