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图书信息
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数字集成电路测试:理论、方法与实践
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| ISBN： | 9787302662037 |
定价： | ￥79.00 |
| 作者： | 李华伟[等]编著 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 258页 |
中图法： | TN431.207 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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29
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库区4/样本4/样本7
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2026-06-21
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图书简介 | | 本书介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
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