同类推荐
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
三维集成硅通孔技术
-
¥109.00
-
-
三维集成硅通孔技术
-
¥109.00
-
-
三维集成硅通孔技术
-
¥109.00
-
-
光电集成技术
-
¥199.00
-
-
芯片制造:半导体真空技术与设备
-
¥79.00
-
-
形式化验证:现代VLSI设计的必备工具包
-
¥129.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
数字集成电路测试:理论、方法与实践
|
| ISBN： | 9787302662037 |
定价： | ￥79.00 |
| 作者： | 李华伟[等]编著 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 258页 |
中图法： | TN431.207 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
35
|
库区4/样本4/样本7
|
2026-02-02
|
|
其它供货商库存合计
|
95
|
|
2026-02-02
|
图书简介 | | 本书介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
|