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图书信息
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半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法
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| ISBN： | 9787576705447 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 李兴冀等编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2023年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 401页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN304;TN303 |
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259
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2026-01-30
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图书简介 | | 全书共分为4章，系统阐述了辐射诱导半导体缺陷的相关理论、数值模拟方法、表征技术及应用。空间辐射诱导缺陷是导致电子元器件性能退化的重要原因，然而辐射诱导缺陷的形成、演化和性质与半导体材料本身物理属性、器件类型及结构密切相关。 |
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