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图书信息
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集成电路器件抗辐射加固设计技术
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| ISBN： | 9787030747143 |
定价： | ￥129.00 |
| 作者： | 闫爱斌[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2023年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 214页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN4 |
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2026-11-13
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图书简介 | | 本书从集成电路器件可靠性问题出发，具体阐述了辐射环境、辐射效应、软错误和仿真工具等背景知识，详细介绍了抗辐射加固设计(RHBD)技术以及在该技术中常用的相关组件，重点针对表决器、锁存器、主从触发器和静态随机访问存储器(SRAM)单元介绍了经典的和新颖的RHBD技术，扼要描述了相关实验并给出了容错性能和开销对比分析。 |
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