同类推荐
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
芯粒测试
-
¥89.00
-
-
光电集成技术
-
¥199.00
-
-
微电子与集成电路设计导论
-
¥55.00
-
-
芯片制造:半导体真空技术与设备
-
¥79.00
-
-
形式化验证:现代VLSI设计的必备工具包
-
¥129.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
-
-
Altium Designer 25电路设计精进实践
-
¥99.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
集成电路测试技术
|
| ISBN： | 9787121443510 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 武乾文主编 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2022年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 17,329页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN407 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
9
|
库区13/库区4/库区7
|
2026-02-03
|
|
其它供货商库存合计
|
560
|
|
2026-02-03
|
图书简介 | | 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。 |
|