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图书信息
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集成电路测试技术
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| ISBN： | 9787121443510 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 武乾文主编 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2022年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 17,329页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN407 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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9
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库区13/库区4/库区7
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2026-03-23
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其它供货商库存合计
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610
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2026-03-20
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图书简介 | | 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。 |
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