同类推荐
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
功率半导体器件原理及设计
-
¥69.00
-
-
高电子迁移率晶体管建模理论与实践
-
¥128.00
-
-
半导体工艺和器件网页仿真软件Cogenda WebTC…
-
¥69.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
功率半导体封装技术
|
| ISBN: | 9787121418976 |
定价: | ¥128.00 |
| 作者: | 虞国良主编 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2021年09月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 19,320页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | TN305.94 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
802
|
|
2026-02-03
|
图书简介 | | 本书着重阐述功率半导体器件的封装技术、测试技术、仿真技术、封装材料应用,以及可靠性试验与失效分析等方面的内容。本书共10章,主要内容包括功率半导体封装概述、功率半导体封装设计、功率半导体封装工艺、IGBT封装工艺、新型功率半导体封装技术、功率器件的测试技术、功率半导体封装的可靠性试验、功率半导体封装的失效分析、功率半导体封装材料、功率半导体封装的发展趋势与挑战。 |
|