同类推荐
-
-
全耗尽绝缘体上硅:纳米器件、机理和表征
-
¥99.90
-
-
半导体手册:基础原理与新兴应用
-
¥109.00
-
-
简明光刻手册
-
¥98.00
-
-
玻璃通孔技术
-
¥138.00
-
-
半导体器件与工艺
-
¥68.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
图解功率半导体
-
¥79.00
-
-
半导体材料计算
-
¥79.80
|
|
图书信息
|
|
|
|
功率半导体封装技术
|
| ISBN: | 9787121418976 |
定价: | ¥128.00 |
| 作者: | 虞国良主编 |
出版社: | 电子工业出版社 |
| 出版时间: | 2021年09月 |
开本: | 24cm |
| 页数: | 19,320页 |
装祯: | 精装 |
中图法: | TN305.94 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
748
|
|
2026-05-14
|
图书简介 | | 本书着重阐述功率半导体器件的封装技术、测试技术、仿真技术、封装材料应用,以及可靠性试验与失效分析等方面的内容。本书共10章,主要内容包括功率半导体封装概述、功率半导体封装设计、功率半导体封装工艺、IGBT封装工艺、新型功率半导体封装技术、功率器件的测试技术、功率半导体封装的可靠性试验、功率半导体封装的失效分析、功率半导体封装材料、功率半导体封装的发展趋势与挑战。 |
|