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图书信息
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集成电路测试指南
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| ISBN： | 9787111683926 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | 邬刚，王瑞金，包军林编著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2021年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 13,257页 |
中图法： | TN407-62 |
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2026-10-20
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图书简介 | | 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。 |
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