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图书信息
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纳米级系统芯片单粒子效应研究
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| ISBN： | 9787030673282 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 贺朝会[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2021年05月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 191页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN430.3 |
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更新日期
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202
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2026-04-06
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图书简介 | | 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应，主要包括国内外研究现状，SoC单粒子效应测试系统的建立，α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
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