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图书信息
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CMOS集成电路闩锁效应
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| ISBN： | 9787111645870 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | 温德通编著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2020年03月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 16,230页 |
中图法： | TN432.07 |
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2026-05-01
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图书简介 | | 本书共分为十一章，主要内容包括：CMOS集成电路寄生双极型晶体管、闩锁效应的分析方法、闩锁效应的物理分析、闩锁效应的业界标准和测试方法等。
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