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图书信息
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纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化:从电路级到系统级:from circuit-level to system level
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| ISBN： | 9787302522997 |
定价： | ￥69.00 |
| 作者： | 靳松，韩银和著 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2019年06月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 181页 |
中图法： | TN431.2 |
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2026-01-29
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图书简介 | | 本文的主要内容涉及了在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应-负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。 |
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