同类推荐
-
-
氮化镓单晶材料与器件
-
¥118.00
-
-
氮化镓单晶材料与器件
-
¥118.00
-
-
氮化镓单晶材料与器件
-
¥118.00
-
-
半导体器件基础
-
¥198.00
-
-
宽禁带功率半导体器件特性测试
-
¥129.00
-
-
宽禁带功率半导体器件特性测试
-
¥129.00
-
-
宽禁带功率半导体器件特性测试
-
¥129.00
-
-
先进的高压大功率器件:原理、特性和应用
-
¥168.00
-
-
半导体显示电子学
-
¥49.00
-
-
LED芯片制造及可靠性测试技术
-
¥188.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
微波器件电磁损伤规律研究
|
| ISBN： | 9787030591128 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | 谭志良[等]著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2018年11月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 210页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN385 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
202
|
|
2026-06-17
|
图书简介 | | 本书由浅入深、系统地介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应，然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理，最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。 |
|