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图书信息
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数字电路老化预测与容忍
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| ISBN： | 9787312043598 |
定价： | ￥30.00 |
| 作者： | 徐辉著 |
出版社： | 中国科学技术大学出版社 |
| 出版时间： | 2018年02月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 123页 |
中图法： | TN431.2 |
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2026-04-02
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图书简介 | | 本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述，对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。 |
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