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图书信息
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半导体材料与器件表征
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| ISBN： | 9787569302189 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著 |
出版社： | 西安交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 10,714页 |
中图法： | TN304;TN303 |
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346
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2026-09-14
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图书简介 | | 本书分十二章，内容包括：电阻率；载流子与掺杂浓度；接触电阻和肖特基势垒；串联电阻，沟道长度与宽度，阈值电压；缺陷；栅氧电荷、界面陷阱电荷和栅氧厚度；载流子寿命；迁移率；基于电荷和探针的表征技术等。 |
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