同类推荐
-
-
半导体工艺和器件网页仿真软件Cogenda WebTC…
-
¥69.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
-
-
大功率LED封装技术及应用
-
¥168.00
-
-
图解高可靠性SiC功率半导体器件与封装技术
-
¥69.00
-
-
半导体器件物理实验教程
-
¥69.00
-
-
IGBT器件:物理、设计与应用
-
¥198.00
-
-
现代半导体光电子器件
-
¥32.90
-
-
卟啉/酞菁光电半导体材料
-
¥299.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
半导体材料与器件表征
|
| ISBN： | 9787569302189 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著 |
出版社： | 西安交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 10,714页 |
中图法： | TN304;TN303 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
454
|
|
2025-12-01
|
图书简介 | | 本书分十二章，内容包括：电阻率；载流子与掺杂浓度；接触电阻和肖特基势垒；串联电阻，沟道长度与宽度，阈值电压；缺陷；栅氧电荷、界面陷阱电荷和栅氧厚度；载流子寿命；迁移率；基于电荷和探针的表征技术等。 |
|