同类推荐
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
碳化硅MOSFET封装、驱动及应用
-
¥79.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
超宽禁带半导体金刚石单晶材料和场效应晶体管
-
¥139.00
-
-
功率半导体器件原理及设计
-
¥69.00
-
-
高电子迁移率晶体管建模理论与实践
-
¥128.00
-
-
半导体工艺和器件网页仿真软件Cogenda WebTC…
-
¥69.00
-
-
宽禁带功率器件的开关动态测试技术
-
¥119.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
半导体材料与器件表征
|
| ISBN： | 9787569302189 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K. Schroder)著 |
出版社： | 西安交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2017年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 10,714页 |
中图法： | TN304;TN303 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
420
|
|
2026-02-03
|
图书简介 | | 本书分十二章，内容包括：电阻率；载流子与掺杂浓度；接触电阻和肖特基势垒；串联电阻，沟道长度与宽度，阈值电压；缺陷；栅氧电荷、界面陷阱电荷和栅氧厚度；载流子寿命；迁移率；基于电荷和探针的表征技术等。 |
|