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图书信息
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纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
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| ISBN： | 9787111521846 |
定价： | ￥59.90 |
| 作者： | (美)桑迪普 K.戈埃尔(Sandeep K. Goel)，(印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(Krishnendu Chakrabarty)主编 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2016年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 13,191页 |
中图法： | TN432 |
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2026-04-24
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图书简介 | | 本书分为4个部分：第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成(ATPG)；第2部分介绍全速测试，并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD；第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案；第4部分介绍了SDD的测试标准等内容。 |
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