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图书信息
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半导体集成电路的可靠性及评价方法
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| ISBN： | 9787121271601 |
定价： | ￥88.00 |
| 作者： | 章晓文，恩云飞编著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2015年10月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 15,394页 |
中图法： | TN43 |
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。 |
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