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图书信息
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芯片测试与安全
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| ISBN： | 9787111792512 |
定价： | ￥59.00 |
| 作者： | 王虹飞编著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2025年11月 |
版次： | 1版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 207页 |
中图法： | TN43;G203 |
相关供货商
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北京人天书店有限公司
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2026-06-15
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其它供货商库存合计
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500
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2026-06-15
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图书简介 | | 本书全面介绍了芯片测试与安全的基础理论与核心技术，包括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试，重点分析故障仿真与诊断方法。 |
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