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图书信息
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芯片测试与安全
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| ISBN： | 9787111792512 |
定价： | ￥59.00 |
| 作者： | 王虹飞, 编著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2025年11月 |
版次： | 1版 |
| 开本： | 26 |
页数： | 261 |
| 装祯： | 平装 |
中图法： | TN43 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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30
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库区7
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2025-12-08
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其它供货商库存合计
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500
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2025-12-08
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图书简介 | | 本书全面介绍了芯片测试与安全的基础理论与核心技术，包括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试，重点分析故障仿真与诊断方法。本书讨论了存储器测试、时延测试等关键技术，并结合全球化供应链背景，探讨芯片经济学、安全问题及硬件IP保护。本书详细解析了物理攻击与防篡改技术，介绍了侧信道攻击类型及防御策略，深入讲解了物理不可克隆函数的原理与攻防技术，以及逻辑锁定等安全增强技术的应用。本书还探索了结合人工智能提升芯片测试效率与安全性的路径。章后配有习题，以指导读者深入学习。第10章配有电子设计自动化测试与安全实验，为读者提供动手实践机会。 |
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