同类推荐
-
-
短波长特征X射线衍射
-
¥198.00
-
-
材料X射线衍射基础与实践
-
¥49.00
-
-
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
-
¥39.80
-
-
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
-
¥39.80
-
-
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
-
¥39.80
-
-
材料X射线分析技术
-
¥79.00
-
-
晶体材料的X射线衍射原理与应用
-
¥56.00
-
-
现代衍射方法
-
¥198.00
-
-
结构预测在物理学中的应用
-
¥98.00
-
-
多晶材料X射线衍射:实验原理、方法与应用
-
¥45.00
|
|
图书信息
|
|
|
晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础
|
ISBN: | 9787502499723 |
定价: | ¥80.00 |
作者: | (新)董志力著 |
出版社: | 冶金工业出版社 |
出版时间: | 2024年06月 |
开本: | 24cm |
页数: | 15,220页 |
中图法: | O72;O766 |
相关供货商
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
北京人天书店有限公司
|
1
|
泰安展厅库
|
2025-08-28
|
其它供货商库存合计
|
600
|
|
2025-08-25
|
图书简介 | 本书共3部分,第1部分为晶体学简介,包括晶体与布拉维点阵的周期性,晶体的对称性、点群和空间群,倒易点阵及晶体结构表征举例;第2部分为材料的X射线衍射,包括X射线衍射的几何原理、X射线的衍射强度、实验方法与粉末X射线衍射仪、粉末X射线图谱的Rietveld精修;第3部分为材料透射电子显微学,包括电子和X射线的原子散射因子、透射电子显微镜中的电子衍射、衍射衬度和相位衬度。 |
|