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图书信息
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材料X射线分析技术
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| ISBN： | 9787030759306 |
定价： | ￥79.00 |
| 作者： | 朱和国[等]编著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2023年09月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 292页 |
中图法： | O721 |
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2025-08-27
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图书简介 | | 本书为工业和信息化部“十四五”规划教材，主要介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分等方面的分析技术。其中结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、非晶分析、织构分析、小角散射与掠入射分析、层错分析、位错分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵参数的精确测量和热处理分析等；形貌分析技术即为三维x射线显微成像分析；成分分析技术包括特征x射线能谱、x射线光电子能谱及荧光x射线谱等。书中研究和测试的材料主要包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容做了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界最新的研究成果。 |
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