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图书信息
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图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲
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| ISBN： | 9787111749622 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | (日)可靠性技术丛书编辑委员会主编 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2024年02月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 159页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN305-64 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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39
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库区13/库区4/库区7/样本13/样本4/样本7
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2026-06-19
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其它供货商库存合计
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452
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2026-06-19
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图书简介 | | 本书共分为4章，内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏，用以介绍每个领域的某些方面。在第2-4章的末尾各列入了3道例题，这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者”资格认定考试，题型为5选1，希望大家可以利用这些例题来测试一下自身的水平。 |
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