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图书信息
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半导体器件电离辐射总剂量效应
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| ISBN： | 9787030700391 |
定价： | ￥135.00 |
| 作者： | 陈伟[等]编著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2022年09月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 226页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN303 |
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202
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2026-02-16
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图书简介 | | 本书主要介绍电离辐射环境与效应、体硅cmOs工艺器件和SOI工艺器件电离总剂量效应、双极工艺器件低剂量率辐射损伤增强效应、总剂量效应数值模拟和试验方法、总剂量效应预估模型与方法、纳米器件总剂量效应与可靠性、系统级总剂量效应模拟试验方法等内容。 |
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