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图书信息
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IC芯片设计中的静态时序分析实践
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| ISBN： | 9787111706861 |
定价： | ￥135.00 |
| 作者： | (美)J.巴斯卡尔(J. Bhasker)，(美)拉凯什·查达(Rakesh Chadha)著 |
出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版时间： | 2022年07月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 14,346页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN402 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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132
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库区7/样本7
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2025-11-01
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其它供货商库存合计
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323
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2025-10-31
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图书简介 | | 本书深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法，涉及包括互连线模型、时序计算和串扰等在内的影响纳米级电路设计的时序的重要问题，并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化(OCV)下进行时序检查的方法，同时详细介绍了层次化块(Block)、全芯片及特殊I0接口的时序验证，并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。不管是刚开始使用静态时序分析的初学者，还是精通静态时序分析的专业人士，本书都是优秀的教材或参考资料。 |
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