同类推荐
-
-
漫话芯片:有趣有深度的芯片知识图解
-
¥89.80
-
-
AI辅助芯片制造:算法与工程化落地
-
¥89.00
-
-
AI辅助芯片制造:算法与工程化落地
-
¥89.00
-
-
AI辅助芯片制造:算法与工程化落地
-
¥89.00
-
-
集成电路制造工艺及装备
-
¥69.00
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
集成电路测试项目教程:微课版
-
¥69.80
-
-
PCB电路设计与制作:基于嘉立创EDA:微课版
-
¥59.80
-
-
Altium Designer 23原理图与PCB设计…
-
¥59.90
|
|
图书信息
|
|
|
|
现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
|
| ISBN： | 9787121351150 |
定价： | ￥99.00 |
| 作者： | (日)Eishi H. Ibe著 |
出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版时间： | 2019年01月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 14,210页 |
中图法： | TN45;TN103 |
印次： | 2022.07重印 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
3
|
库区13/库区2
|
2026-08-19
|
|
其它供货商库存合计
|
518
|
|
2026-08-19
|
图书简介 | | 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。 |
|