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图书信息
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一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析
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| ISBN： | 9787302589235 |
定价： | ￥39.00 |
| 作者： | 张晶威编著 |
出版社： | 清华大学出版社 |
| 出版时间： | 2022年01月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 127页 |
中图法： | TN410.2 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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2
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库区4/库区7
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍，通过对电子工程设计中的实际故障案例分析，帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案，内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。 |
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