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图书信息
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透射电子显微学.下册
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| ISBN： | 9787040524130 |
定价： | ￥129.00 |
| 作者： | David B. Williams，C. Barry Carter著 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2019年11月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 649页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN16 |
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2
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2026-08-06
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图书简介 | | 本书介绍了成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术，以及对实验图像的处理、分析和理论模拟，还介绍了X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用，以及与之相关的各种实验技术。 |
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