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图书信息
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扫描电镜与显微分析:从技术原理到案例
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| ISBN： | 9787562380818 |
定价： | ￥95.00 |
| 作者： | 高尚[等]著 |
出版社： | 华南理工大学出版社 |
| 出版时间： | 2025年11月 |
版次： | 1版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 18,369页 |
中图法： | TN16 |
相关供货商
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供货商名称
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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泰安展厅库
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2026-10-25
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其它供货商库存合计
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632
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2026-10-19
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图书简介 | | 本书系统阐述了扫描电子显微镜(SEM)与显微分析(EDS和EBSD)的原理、技术及实践。全书共17章，前12章重点介绍SEM的基本原理、硬件构成、电子光学参数、电子与固体的相互作用、信号探测和成像技术、操作技巧和样品制备等内容；后4章涵盖EDS能谱分析和EBSD电子背散射衍射；最后第17章专题与案例，深入浅出呈现场发射SEM的技术精髓。 |
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