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图书信息
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半导体材料测试与分析
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| ISBN： | 9787030270368 |
定价： | ￥148.00 |
| 作者： | 杨德仁等著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2010年04月 |
开本： | 25cm |
| 页数： | 11,381页 |
装祯： | 精装 |
| 中图法： | TN304.07 |
印次： | 2017.01重印 |
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2026-08-21
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图书简介 | | 本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术，涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容：包括四探针电阻率、无接触电阻率等。 |
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