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图书信息
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半导体光谱测试方法与技术
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| ISBN： | 9787030472229 |
定价： | ￥128.00 |
| 作者： | 张永刚，顾溢，马英杰著 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2016年01月 |
开本： | 25cm |
| 页数： | 331页，[2]页图版 |
装祯： | 精装 |
中图法： | O472 |
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202
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2026-02-19
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图书简介 | | 本书首先介绍了光谱学和光谱仪器的发展概况和基本原理，分析了半导体材料、器件及其应用研究工作以及相关研制和生产中对光谱测试的需求，然后论述各种光谱仪器的分类及其工作原理，分别探讨基于分光光谱仪和傅里叶变换光谱仪等的光谱测量系统，包括其各部分的组成、性能参数要求和搭建实际系统应注意的问题等。 |
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