同类推荐
-
-
芯片工艺与设备
-
¥59.00
-
-
芯片工艺与设备
-
¥59.00
-
-
芯片工艺与设备
-
¥59.00
-
-
Cadence Sigrity理论分析与仿真实践
-
¥129.00
-
-
电力芯片电路基础、控制与集成
-
¥78.00
-
-
电力芯片电路基础、控制与集成
-
¥78.00
-
-
电力芯片电路基础、控制与集成
-
¥78.00
-
-
微电子学基础:机器人和生物工程应用:下
-
¥149.00
-
-
微电子学基础:机器人和生物工程应用:下
-
¥149.00
-
-
微电子学基础:机器人和生物工程应用:下
-
¥149.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
集成电路测试原理与技术
|
| ISBN： | 9787512450820 |
定价： | ￥52.00 |
| 作者： | 王香芬，高成，姚金勇编著 |
出版社： | 北京航空航天大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年08月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 232页 |
中图法： | TN407 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
|
|
|
|
|
其它供货商库存合计
|
863
|
|
2026-10-09
|
图书简介 | | 本书系统介绍了集成电路测试的基本原理、方法和技术，涵盖了数字集成电路、各类模拟集成电路、存储器、SOC器件、数字/模拟混合集成电路、DC-DC模块、固态功率控制器等方面。在此基础上对IC设计到测试的瓶颈和融合问题进行了详细阐述，介绍了现代集成电路测试系统(ATE)的软、硬件架构和特点，最后对DIB测试接口板设计技术详细论述。 |
|