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图书信息
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集成电路可靠性设计与评价
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| ISBN： | 9787040653687 |
定价： | ￥86.00 |
| 作者： | 尤政主编 |
出版社： | 高等教育出版社 |
| 出版时间： | 2025年12月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 375页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | TN402 |
相关供货商
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更新日期
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其它供货商库存合计
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48
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2026-07-29
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图书简介 | | 本书分为三个部分，共9章，分别是：第一部分集成电路可靠性基础，介绍了可靠性数学基础、失效机理等内容；第二部分集成电路可靠性设计，介绍了集成电路可靠性设计基础、集成电路可靠性仿真方法及可靠性的工艺保证等内容；第三部分集成电路可靠性评价，介绍了集成电路失效分析、可靠性试验和可靠性评价等内容。 |
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