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图书信息
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集成电路测试技术
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| ISBN： | 9787115678584 |
定价： | ￥59.80 |
| 作者： | 李春霞主编 |
出版社： | 人民邮电出版社 |
| 出版时间： | 2026年08月 |
版次： | 1版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 230页 |
中图法： | TN407 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区13
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2026-10-10
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其它供货商库存合计
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1180
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2026-10-09
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图书简介 | | 本书首先介绍集成电路的发展和研发制造流程，以及测试的重要性；其次详细介绍集成电路测试原理、测试设备和测试代码开发；最后通过企业项目化的芯片测试案例，全面介绍测试框架搭建、测试方案设计，以及测试代码编写、编译和调试，测试结果分析和总结，帮助读者提高实际动手能力，掌握设备、仪器的使用方法。 |
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