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图书信息
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半导体的检测与分析
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| ISBN： | 9787030194626 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 许振嘉主编 |
出版社： | 科学出版社 |
| 出版时间： | 2007年01月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 24cm |
页数： | 635页 |
| 装祯： | 精装 |
中图法： | TN304.07 |
印次： | 0 |
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70
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2025-12-19
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图书简介 | | 本书共分7章。内容包括：引论，半导体的高分辨X射线衍射，光学监测与分析，表面、薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征等。 |
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