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图书信息
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基于扫描探针显微技术的二维滑移铁电材料极化特性研究
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| ISBN： | 9787577019444 |
定价： | ￥48.00 |
| 作者： | 潘二，刘富才著 |
出版社： | 电子科技大学出版社 |
| 出版时间： | 2025年12月 |
开本： | 24cm |
| 页数： | 100页 |
中图法： | TN16 |
图书简介 | | 本书内容涵盖二维材料的制备与器件构筑、原子力显微镜及其衍生技术的应用、极化分布与畴结构的精细表征、界面耦合机制的物理解析等多个方面，形成了滑移铁电研究的系统性认识。本书不仅有助于加深对滑移铁电材料基本物理图像的理解，也为相关实验方法的构建与器件性能的提升提供了理论与技术指导。 |
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