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图书信息
互换性与测量技术
ISBN:
9787562330127
定价:
¥26.00
作者:
黄镇昌主编
出版社:
华南理工大学出版社
出版时间:
2009年08月
开本:
26cm
页数:
237页
中图法:
TG801
印次:
0
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383
2025-12-01
图书简介
本书共分十一章,内容包括:互换性与标准化的基本概念;尺寸极限与配合;几何公差;表面粗糙及波纹度;几何量测量技术基础等。
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清华大学出版社
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