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图书信息
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测试技术及应用
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| ISBN： | 9787562329695 |
定价： | ￥26.00 |
| 作者： | 史天录，刘经燕主编 |
出版社： | 华南理工大学出版社 |
| 出版时间： | 2009年05月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 202页 |
| 中图法： | TB9 |
印次： | 0 |
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10
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2026-07-24
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图书简介 | | 全书共分六章，内容包括：测试系统分析，信号的获取，信号的预处理，常见工程量测试，信号描述及处理，微机化测试分析仪及微机测试系统。 |
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