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图书信息
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互换性与测量技术基础
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| ISBN： | 9787303311309 |
定价： | ￥36.50 |
| 作者： | 韩立洋，陈志勇主编 |
出版社： | 北京师范大学出版社 |
| 出版时间： | 2026年01月 |
版次： | 2版 |
| 开本： | 26cm |
页数： | 226页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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1
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库区7
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2026-09-13
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其它供货商库存合计
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16
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2026-08-06
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图书简介 | | 本书共分九章，内容包括测量技术概述、测量误差及数据处理、线性尺寸公差的ISO代号体系、几何公差及几何误差的检测、表面结构及测量、螺纹连接公差及其检测、量规的设计、实例分析等。 |
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