同类推荐
-
-
互换性与技术测量:产品几何技术规范与认证
-
¥62.00
-
-
几何量公差与检测
-
¥49.80
-
-
几何量公差与检测实验指导书
-
¥29.80
-
-
公差配合与测量技术
-
¥49.80
-
-
互换性与测量技术基础
-
¥59.00
-
-
互换性与测量技术
-
¥86.00
-
-
机械量具检定与调修
-
¥43.00
-
-
公差配合与技术测量:理实一体化
-
¥55.00
-
-
表面粗糙度的测量和表征
-
¥58.00
-
-
互换性与技术测量
-
¥45.00
|
|
图书信息
|
|
|
|
公差配合与测量
|
| ISBN： | 9787313329318 |
定价： | ￥49.80 |
| 作者： | 张乐，李兴瑞，贾荣粮主编 |
出版社： | 上海交通大学出版社 |
| 出版时间： | 2025年07月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 229页 |
中图法： | TG801 |
相关供货商
|
供货商名称
|
库存量
|
库区
|
更新日期
|
|
北京人天书店有限公司
|
37
|
库区6
|
2026-03-28
|
|
其它供货商库存合计
|
1
|
|
2026-03-26
|
图书简介 | | 本书包含八个项目，内容包括公差测量技术概述、极限与配合、测量技术基础、尺寸的测量、几何公差、光滑极限量规的使用、表面粗糙度的测量和公差配合与测量技术的生产实际应用。 |
|