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图书信息
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胚胎电子系统移除-进化自修复方法及应用
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| ISBN： | 9787576717549 |
定价： | ￥97.00 |
| 作者： | 朱赛[等]编著 |
出版社： | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 出版时间： | 2024年11月 |
开本： | 26cm |
| 页数： | 238页 |
装祯： | 平装 |
中图法： | TN82 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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8
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库区4/泰安展厅库/样本4
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2026-02-15
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其它供货商库存合计
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615
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2026-01-30
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图书简介 | | 本书主要介绍了仿生电子系统发展现状，分别从移除-进化自修复方法、具有进化能力的胚胎电子系统结构、快速进化自修复方法及实验系统设计方法等方面进行了研究分析，并结合高可靠性阵列天线设计需求，研究了基于胚胎电子系统的阵列天线结构及其修复方法，进行了阵列天线仿生自修复实验系统的设计与实现。 |
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