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图书信息
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航天集成电路测试技术
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| ISBN： | 9787515921860 |
定价： | ￥98.00 |
| 作者： | 蒋顺成，王勇主编 |
出版社： | 中国宇航出版社 |
| 出版时间： | 2025年01月 |
开本： | 21cm |
| 页数： | 354页 |
装祯： | 精装 |
中图法： | V44 |
相关供货商
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供货商名称
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库存量
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库区
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更新日期
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北京人天书店有限公司
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45
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库区4/库区7/样本4
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2025-10-19
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其它供货商库存合计
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98
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2025-10-10
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图书简介 | | 本书首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状，进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展，再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类，结合大量宝贵实例，对其进行了全面阐述。本书旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果，推动其规范发展，提升测试人员实操水平与工作效率，完善航天集成电路人才培育体系。 |
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